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當前位置：首頁 >產品中心>物理實驗儀器>介電常數(shù)測試儀>HD-JD1薄膜介質損耗儀
簡要描述：薄膜介質損耗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。 介質損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。
產品型號：HD-JD1廠商性質：生產廠家 更新時間：2025-06-18訪 問 量：423 詳細介紹
| 品牌 | 霍爾德?電子 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 國產 | 應用領域 | 鋼鐵/金屬 |
儀器簡介:
介質損耗和介電常數(shù)是各種金屬氧化物，板材，瓷器（陶器），云母，玻璃，塑料等物質的一項重要的物理性質。通過測定可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)。
薄膜介質損耗儀的用途:
薄膜介質損耗儀用于科研機關、學校、工廠等單位對無機金屬新材料性能的應用研究。
參考標準:
u GB/T 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數(shù)的推薦方法；
u GB/T 1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法；
u ASTM-D150-介電常數(shù)測試方法；
u GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數(shù)的測試方法。
技術參數(shù)
| 1 | 信號源 | DDS數(shù)字合成 10KHZ-70MHz |
| 2 | 采樣精度 | 11BIT |
| 3 | 測量范圍 | 1-1000自動/手動量程 |
| 4 | 分辨率 | 0.1 |
| 5 | 測量工作誤差 | <5% |
| 6 | 電感測量范圍 | 分辨率0.1nH |
| 7 | 電感測量誤差 | <3% |
| 8 | 調諧電容 | 主電容30-540pF |
| 9 | 電容直接測量范圍 | 1pF～2.5uF |
| 10 | 調諧電容誤差 | ±1 pF或<1% 0.1pF |
| 11 | 諧振點搜索 | 自動掃描 |
| 12 | 合格預置范圍 | 5-1000聲光提示 |
| 13 | LCD顯示參數(shù) | F，L，C，Q，Lt，Ct等 |
| 14 | 介質損耗系數(shù)精度 | 萬分之一 |
| 15 | 介電常數(shù)精度 | 千分之一 |
| 16 | 材料測試厚度 | 0.1mm-10mm |
| 17 | 技術 | 儀器自動扣除殘余電感和測試引線電感。大幅提高測量精度。大電容值直接測量顯示。數(shù)顯微測量裝置，直接讀值。 |
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